Industrie Mag - Le journal de l'industrie.
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Intégré dans les détecteurs de défauts par ultrasons multiéléments de M2M Gekko et Mantis, Capture v2.3 offre de nombreuses nouvelles fonctionnalités qui améliorent l’expérience utilisateur et accélère le contrôle CND. Mis à jour deux fois par an, le logiciel Capture est une plateforme évolutive qui combine technologies de pointe et interface intuitive afin de répondre aux nouveaux défis du marché.
Dans cette version, M2M introduit des améliorations significatives demandées par les clients. La configuration de nouvelles applications et de nouvelles fonctions enrichissent les possibilités pour les cartographies de zones corrodées ; en analyse, l’ajustement des positions de sonde ainsi qu’un ensemble complet d’outils dédiés aux inspections TOFD sont maintenant disponibles. Capture v2.3 offre également des possibilités inégalées avec le nouveau mode rapide de Focalisation en Tous Points (FTP/TFM), maintenant 3,5 fois plus rapide tout en maintenant une résolution d’image maximale ; ou avec les nouveaux assistants de calibration des sabots courbes pour les inspections de soudures longitudinales.
« La version v2.3 maintient l’innovation au plus haut niveau, » dit Grégoire Benoist, responsable de la ligne de produits portables à M2M. « L’équipe de R&D dédiée au logiciel Capture travaille continuellement pour répondre à de nouveaux cas d’applications CND, améliorer l’expérience utilisateur et accélérer la création des configurations de contrôle et simplifier l’analyse des données. »
Capture est l’une des clés du succès des détecteurs de défauts par ultrasons multiéléments Gekko et Mantis. Capture offre aux opérateurs sur le terrain une interface intelligente qui permet une grande facilité d’utilisation des techniques d’inspection standards (PE, TOFD, PA) et avancées telle que la Focalisation en Tous Points. Au cours de la dernière décennie, le mode FTP a prouvé son efficacité dans le monde du CND en offrant une technologie facile d’accès permettant une meilleure détection et caractérisation des défauts.
